Podrobnosti záznamu

Název
    Meření tloušťky elektricky vodivých vrstev používaných v rentgenové mikroanalýze
Údaj o odpovědnosti
    Josef Skalický, Zdeněk Kotrba
Další názvy
    Measurement of the thickness of electroconductive layers in used X-ray microanalysis
Autor
    Kotrba, Zdeněk
    Skalický, Josef
Jazyk
    česky
Zdrojový dokument - seriál
    Zprávy o geologických výzkumech v roce 1995
Strany
    s. 156-157
Rok
    1996
Poznámky
    3 diagr., 2 bibl.
    Zkr. název ser.: Zpr. geol. Výzk. v Roce 1995.
Předmětová skupina
    analýza spektrální
    difrakce rentgenová
    preparace vzorků
    příprava vzorku
    výzkum
    zpráva o činnosti
Klíčové slovo
    Elektricky
    Meření
    Mikroanalýze
    Používaných
    Rentgenové
    Tloušťky
    Vodivých
    Vrstev
Přispěvatel
    Česká geologická služba
Kód přispěvatele
    ČGS (UNM)
Zdrojový formát
    U
Datum vložení
    31. 3. 2008
Datum importu
    8. 8. 2012